1.  Fowler-Nordheim (F-N) tunneling theory.
2. the enhancement of hole injection reduces the accumulation of carriers at the interfaces and avoids hole traps,resulting in high efficiency

위 글은 논문에 나와있던 내용을 복사한 것인데요..
1번의 이론은 검색해도 검색능력부족인지 정보가 너무 부족합니다.
직접 설명해주시면 정말 감사드리고 링크나 서적이라도 부탁드립니다 (__)
2번의 경우 accumulation of carriers 이랑 hole traps 은 어떤 경우를 말하는 것인지 모르겠구요..
interfaces 가 junction 이 발생하는 계면을 지칭하는게 맞는지 모르겠네요...
많은 의견 및 지도 부탁드립니다   ^.^;;